[한국대학신문 정명곤 기자]나노입자 표면 분자를 정밀 분석할 수 있는 신기술이 국내 연구진에 의해 개발됐다.

한국표준과학연구원(KRISS) 나노바이오측정센터 이태걸 박사와 한국과학기술원(KAIST) 화학과 한상우 교수 연구팀은 이차이온 질량분석기와 적외선 분광분석기 이미징을 동시에 이용한 나노입자 표면의 분자 분석 기술을 개발했다고 21일 밝혔다.

기존의 분석기기의 이미지 분해능으로는 분자 수준 분석인 입자 하나의 표면의 분석이 어려웠다.

연구진은 나노입자를 실리콘 웨이퍼 위에 떨어뜨려 자기조립으로 양자점 마이크로패턴이 형성되게 했다. 이후 수백 나노미터 수준의 일차이온빔을 쏴 나노 입자와 표면 분자에서 발생한 이차이온을 분석하고 나노입자 표면 상태와 결합 분자를 규명했다.

최근 바이오, 디스플레이 산업에서 의약, 화장품 산업까지 다양하게 활용되고 있는 나노입자는 표면상태나 표면에 붙어 있는 분자에 따라 성질이나 독성 유무 등이 달라져 나노입자 표면 분자를 정화하게 파악하는 것이 중요하다.

또 적외선 분광 분석기를 이용해 나노입자와 표면 분자의 결합방식을 규명, 실제 상태에 가장 가까운 나노 입자의 표면상태를 확인했다.

한상우 교수는 "연구결과가 향후 다양한 산업 분야에서 사용될 나노입자의 합성과 개질에 필요한 기초분석기술로 활용될 것으로 기대 한다"고 말했다.

이 연구결과는 지난달 28일 나노분야 국제학술지 나노스케일에 게재됐다.