메모리 테스트 과정서 불량 수리하는 원천기술 개발
강 교수는 메모리 반도체 테스트 과정에서 고장을 찾아내 자체적으로 수리할 수 있는 회로를 설계, 이 분야 원천기술을 확보한 공고를 인정받았다.
강 교수가 개발한 회로는 수리연산회로다. 메모리 테스트에서 발견된 불량을 효과적으로 수리하는 기능을 가졌다. 그는 “불철주야 연구에 매진해 온 대학원생들과 졸업생들에게 수상의 영광을 돌린다”고 수상 소감을 밝혔다.
강 교수는 1986년 서울대 제어계측공학과를 졸업하고, 미국 텍사스어스틴대에서 전기·컴퓨터 공학박사 학위를 받았다. 1994년부터 연세대 전기전자공학부 교수로 재직해 오며 메모리 수율향상을 위한 내장 수리기술 개발에 천착해 오고 있다.
신하영
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