[한국대학신문 이정환 기자] 한관영 단국대 교수(전자전기공학부, 공과대학장)가 휴대폰이나 각종 디스플레이 표면에 적용되는 나노박막의 표면의 불량을 고속으로 측정하는 장비를 세계 최초로 개발했다.

통상적으로 디스플레이는 표면에 20~40nm 두께의 나노박막을 입혀 매끄럽게 처리하는 과정을 거친다. 기존에는 나노박막의 불량 여부 확인을 위해 투과전자현미경, 원자 및 주사전자현미경 등으로 표면의 증착 정도를 판별하고 있지만 시간이 오래 걸리고 정량적 측정이 어려워 불량 제품이 함께 출하되는 경우가 빈번했다.

특히 폴더블 및 플렉시블 디스플레이는 양면접착이 가능한 OCA(광학용투명접착필름)를 사용해 여러 시트층을 붙이는데 접히는 부분에서 들뜸 현상이 많이 발생해 시트 전체를 폐기하기도 했다.

한 교수는 ㈜파웰 코포레이션의 지원을 받아 디스플레이 기판의 나노박막 표면을 고해상도 카메라로 촬영 후 각 표면의 에너지를 측정해 불량 여부를 판별하는 장비를 개발했다. 8인치 디스플레이 전 면적을 40초 이내로 측정할 수 있어 빠른 시간내에 불량 여부 판독이 가능하다. 이를 활용하면 각 나노박막 필름의 불량 여부를 사전 검사 후 양품 자재만 사용할 수 있어 업계의 비용손실 감소 및 생산성 향상에 크게 기여 할 것으로 전망된다.

한 교수는 “디스플레이의 빠른 변천과 제품의 고도화에 발맞춰 평가기술이 개발되지 못해 기업에서 개발자재 및 양산자재의 손실비가 증가하는 문제에 착안해서 장비를 개발하게 됐다”라며 “각광받는 AR, VR에 대한 광학계 연구와 검사기술 개발 및 마이크로 LED 전사와 재생 등 응용기술 개발도 진행 중이다”라고 말했다.

한 교수의 연구성과는 지난 해 12월 세계3대 정보디스플레이 컨퍼런스 가운데 하나인 일본의 IDW(Information Display Workshops)에서 발표됐으며 현재 핵심특허 출원 신청을 마쳤다. 또한 5월 미국에서 열리는 세계 최고 권위의 디스플레이 행사인 SID(Society for Information Display)에서도 관련 기술을 선보일 예정이다.